Fraunhofer ENAS prämiert Entwicklung hochgenauer Lebensdauermodelle in der Leistungselektronik mit dem Fraunhofer ENAS Forschungspreis 2020
Steigende Anforderungen an die Ausfallsicherheit von Leistungselektronik bei gleichzeitig wachsenden Zuverlässigkeitsrisiken aufgrund der hohen Komplexität der Bauelemente machen hochgenaue Lebensdauermodelle und verbesserte Zuverlässigkeitsmethoden für die Entwicklung dieser Leistungselektronikkomponenten notwendig. Dr. Alexander Otto vom Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS hat erfolgreich Mehr





