Jenoptik bietet neuartige UFO ProbeTM Card für PIC-Wafer-Level-Test
Als Partner der Halbleiter-Equipment-Industrie sowie von Test-Anbietern und -Anwendern bietet Jenoptik eine neuartige optische Lösung zur Integration in elektrische Prüfkarten an. Die Ultra-fast opto-electronic Probe Card oder auch UFO ProbeTM Card wird zum funktionalen Prüfen von Halbleiterchips mit integrierten optischen Mehr







